熱門關(guān)鍵詞: 璟德ACX 通泰TONTEK 乾坤科技 Cyntec 新世 XSTEK
隨著國內(nèi)外產(chǎn)業(yè)形勢(shì)的變化,中國集成電路產(chǎn)業(yè)正在邁向新的發(fā)展節(jié)點(diǎn)。 將來,如果要將我國的集成電路產(chǎn)業(yè)提升到一個(gè)新的水平,就必須將自主創(chuàng)新放在更高的位置,以找到精確的定位。 那么在一定程度上可以說質(zhì)量和可靠性是IC產(chǎn)品的生命。 質(zhì)量是衡量產(chǎn)品性能的標(biāo)準(zhǔn)。 它回答了產(chǎn)品是否符合SPEC的要求以及產(chǎn)品是否符合各種性能指標(biāo)的問題。 可靠性是產(chǎn)品耐用性的度量。 它回答了產(chǎn)品的生命周期有多長(zhǎng)? 簡(jiǎn)而言之,這是一個(gè)可以使用多長(zhǎng)時(shí)間的問題。 因此,質(zhì)量(Quality)在現(xiàn)階段解決了問題,可靠性(Reliability)在一段時(shí)間后解決了問題。 了解了兩者之間的區(qū)別,我們發(fā)現(xiàn)解決質(zhì)量問題的方法通常更簡(jiǎn)單。 產(chǎn)品生產(chǎn)后,設(shè)計(jì)和制造部門可以通過簡(jiǎn)單的測(cè)試來了解產(chǎn)品的性能是否符合SPEC要求。 IC設(shè)計(jì)和制造部門可以繼續(xù)進(jìn)行。
IC產(chǎn)品可靠性等級(jí)測(cè)試項(xiàng)目需要通過使用壽命測(cè)試項(xiàng)目和環(huán)境測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行測(cè)試,以評(píng)估過程的穩(wěn)定性,加快缺陷的失敗率并移除由于自然原因而導(dǎo)致失敗的產(chǎn)品。 器件在過熱和過壓條件下的使用壽命為一段時(shí)間。 模擬了在使用前在一定濕度和溫度條件下存儲(chǔ)的IC的耐用性,即從生產(chǎn)到使用的IC的存儲(chǔ)可靠性。 多次讀取和寫入后,非易失性存儲(chǔ)設(shè)備的持久性能。
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